Warunki testu temperatur ROG STRIX B760-F GAMING WIFI
Na potrzeby testów temperatur pomocniczo wykorzystuję pirometr Voltcraft IR 800-20D, o zakresie pomiarowym od -50 do 800 °C. W każdym przypadku wykonywane są maksymalnie dwa pomiary, tzn. jeden dla wbudowanego czujnika (o ile takowy istnieje), zaś drugi na rewersie laminatu – w okolicy MOSFET-ów, z użyciem wspomnianego urządzenia. W tym drugim przypadku za każdym razem staram się odnaleźć możliwie gorący punkt i to on ląduje na wykresach. Testy przeprowadzane są przy procesorze przetaktowanym do 5,5/4,5 GHz (lub mniej, jeżeli któraś z płyt będzie niedomagać)*, czemu towarzyszy napięcie rdzeni równe 1,225 V. Obciążenie generowane jest przez 30-minutowy rendering sceny Barbershop w aplikacji Blender.
*W przypadku płyt niepozwalających na podkręcanie ekwiwalentem OC jest ustawienie długotrwałego limitu mocy na 253 W.
Rewers laminatu płyty głównej
Wbudowany czujnik
SSD M.2 NVMe
Spodobało Ci się? Podziel się ze znajomymi!
Pokaż / Dodaj komentarze do:
Test ASUS ROG STRIX B760-F GAMING WIFI. Chipset B760 w akcji